Рассмотрены основные физические принципы получения оптического изображения с разрешающей способностью, значительно превышающей классический дифракционный предел. Описаны устройство и применения микроскопа ближнего поля, в котором изображение строится при сканировании сверхлокального источника света (зонда) вдоль поверхности объекта на малом расстоянии от нее
