Приведены основные уравнения и понятия геометрической кристаллографии: симметрии, прямой и обратной решеток, кристаллографических проекций. Рассмотрено применение дифракционных методов экспериментального исследования структуры металлов и сплавов на атомном уровне: рентгенографии и аналитической электронной микроскопии, включающей в себя просвечивающую электронную микроскопию, растровую электронную микроскопию и рентгеновский микроанализ. Авторы надеются, что данное пособие будет полезным не только студентам, изучающим соответствующие курсы, но также инженерно-техническим работникам, которые используют в своей деятельности различные дифракционные методы исследования строения и состава сплавов
