В монографии подробно описан новый мощный структурный метод, позволяющий в объекте любой сложности и любого агрегатного состояния измерять кривую радиального распределения атомов для локального (до 5 А) координационного окружения заданного химического элемента по дальней тонкой структуре его рентгеновских спектров поглощения (EXAFS-спектроскопия). Рассмотрены теоретические и методические вопросы EXAFS-спектроскопии. Результаты проиллюстрированы примерами из областей химии растворов, катализа, материаловедения.Книга предназначена для специалистов, изучающих локальную структуру химических объектов.
