Книга является переводом четвертого тома 11-томной серии по микроэлектронике, написанной крупными японскими специалистами. Посвящена новейшим методам автоматизированного проектирования БИС и СБИС, позволяющим получать наилучшие технические характеристики. Основное внимание уделяется математической теории логического проектирования, проблемам упрощения логических функций и языкам описания, которые используются для автоматизации процессов проектирования и моделирования. Рассматриваются способы создания тестов для обнаружения неисправностей и методы создания легкотестируемых схем. Приводятся примеры проектирования БИС и СБИС. Для научных работников и инженеров, проектирующих интегральные схемы, а также студентов соответствующих специальностей вузов.
