Рассматриваются основные теории, критерии и количественные характеристики надёжности электронных средств измерений. Большое внимание уделено оценке количественных характеристик надёжности интегральных микросхем, индикаторов, трансформаторов, коммутирующих устройств, полупроводниковых приборов, резисторов, конденсаторов, печатных плат. На данный момент является сетевым эксклюзивом
