libcats.org
Главная →

Основы анализа поверхности и тонких пленок

Нет обложки

Основы анализа поверхности и тонких пленок

Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов н рентгеновского излучения для анализа структуры н состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на высоком научном уровне. Для специалистов, интересующихся проблемами анализа поверхности и тонких пленок, аспирантов и студентов.
Популярные книги за неделю:

Ключ к сверхсознанию

 Автор:
Категория: Путь к себе
Размер книги: 309 Kb

Древо жизни

 Автор:
Категория: Путь к себе
Размер книги: 1.70 Mb

Здоровье надо созидать

 Автор:
Категория: Здоровье
Размер книги: 363 Kb

Шликерное литье

 Автор:
Категория: science, science, technical
Размер книги: 5.98 Mb
Только что пользователи скачали эти книги:

Феликс Дымов. Я+Я

 Автор:
Размер книги: 33 Kb

Молекулы

 Автор:
Категория: science, science, living
Размер книги: 6.87 Mb

Principles of Biochemistry

 Автор: , Автор: , Автор:
Размер книги: 12.38 Mb

Bobby Fischer's Chess Games

 Автор: , Автор: , Автор:
Размер книги: 9.99 Mb

Валя Котик

 Автор:
Размер книги: 4.69 Mb

Linear differential operators.

 Автор:
Категория: Математика, Теория операторов
Размер книги: 41.68 Mb